El Laboratorio del Departamento Técnico del Instituto Nacional de Silicosis ha adquirido recientemente un nuevo difractómetro de rayos X Emyrean que sustituye al modelo X´Pert Pro que se venía empleando desde el año 2001 para las determinaciones de sílice cristalina respirable en soportes de muestreo así como para la determinación de sílice cristalina (total y respirable) en muestras a granel.

Una de las diferencias con respecto al modelo anterior  es el empleo de un tubo de rayos X de alta resolución (Cu-LFF HR) lo cual permite una mayor calidad en las medidas, siendo especialmente útil para la obtención de difractogramas con máxima resolución mediante el empleo de radiación estrictamente monocromática.

El Empyrean viene equipado con un detector de nueva generación 1Der con una buena resolución de energías (del orden de 340 eV) que permite la obtención de mejores relaciones señal/ruido que las obtenidas con el detector X´Cellerator, evitando el uso de filtros de Ni en haz secundario, así como la eliminación de fluorescencia en las muestras sin necesidad de emplear un monomocrador secundario.

Así mismo, este nuevo equipo dispone de la posibilidad de emplear una óptica de rendijas fijas, similar a la empleada con el X´Pert Pro, o una óptica programable (iCore) permitiendo esta última diferentes tipos de medida (bajo ángulo, Rietveld, ...) sin necesidad de cambiar máscaras o rendijas entre medidas. El módulo iCore está dotado de rendijas automáticas lo cual, unido al empleo de una rendija anti-scatter en el propio detector, permite una mejora de la sensibilidad.

El equipo está operativo desde el pasado mes de julio y en la validación de los métodos de análisis ha permitido obtener límites de cuantificación similares para las reflexiones secundarias de la cristobalita.